儀器設備說明     儀器購置年月：2003.07   儀器經費來源：國立東華大學／教育部／國科會   廠牌及型號：日本, JEOL JEM-3010   重要規格：  　a. 加速電壓：100~300KeV  　b. 放大倍率：x50-1,200,000  　c. 解像力：Point：0.21nm  　d. 解像力：Lattice：0.14nm  　e. 雙傾斜基座：X軸±42°；Y軸±30°   主要附件：  　a. Oxford Energy Dispersive X-ray Analyzer  　b. Gatan 676 Image Intensifier

管理辦法&收費標準   材料系解析式穿透式電子顯微鏡( AEM )管理辦法

服務項目   材料試片、晶體結構分析及缺陷觀察   全能譜定性分析( 5B-92U )及半定量分析

申請服務辦法   一般服務：  　a. 預約前，請先詳閱 AEM 管理辦法  　b. 欲預約AEM，請填寫『申請表』，交至材料系辦  　c. 於預約前與技術人員電話聯絡，告知試片種類性質  　d. 由技術員負責操作   樣品準備需知： 揮發性試片含有機試片及高分子材料、磁性粉末材料及磁性奈米材料，因會造成系統污染，恕不服務

預約時段   星期一：材料系預約時段 星期二：材料系預約時段 星期三：材料系預約時段 星期四：校內預約時段 星期五：校內校外預約時段